제조사/모델명: Asylum Research / Cypher ES AFM System

용도: 재료 표면의 형상 관찰과 전기적, 기계적 특성 영상 분석

주요 Spec:

- 최대 관찰 영역: X, Y 30um, Z 5um

- 인가 전압범위: ±150V

- 표면형상 관찰: 대기분위기, 액체분위기, 기타 기체 분위기

- 전기적 특성 관찰: 전도성, I-V curve, 표면 전하 포텐셜, 일함수, 압전특성

- 기계적 특성 관찰: Nanoindentation, 표면 마찰력(흡착력), 경도 비교, 탄성 계수

- 평평한 바닥의 고체시료: 수평방향 15mm, 높이 6mm 까지 로딩 가능